x射线荧光光谱分析仪。xRF成熟分析由钠至铀，金属，矿产，石油等产品，x射线是电磁波谱，能量介于紫外线与r射线，单位千电子伏特和波长纳米，XRF由探测器，光源射出一次x射线，直接在分析对象表层内部原子，待分析元素会发射x射线荧光荧光会被探测器吸收后处理。我们看到分析对象，在照射时，内部原子活动，一个稳定的原子是由原子核和绕着原子核的中心原子活动的微小电子按能级壳层排布。
当高能一次x射线与原马碰撞厚子内部被打乱。壳层的电子进行跃迁填补该空穴，多余能量电子移动。以荧光行态被释放，光谱记录荧光能量。就是元素特征。表示R下可提供定量分析对象的原子射出荧光。被探测器收集在分析仪处理后绘制出光学频谱。这些光谱表达元素由荧光强度或面积表征分析对象各种元素的含量。该仪器从按下开始键，两分钟得到结果。
1、能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状最大460×380mm(高150mm)样品塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压最大50KV管电流最大1mAX射线照射径1/3/5mm防护<0.1mR/Hr(辐射低于电脑屏幕）检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍软件定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）照射径：1/3/5mm定量分析：基础参数法/标准法/1点校正计算机CPUPentiumIV1.8GHz以上内存256MB以上硬盘20GB以上OSWindowXP监视器17寸LCD周围温度10～35。
2、X射线荧光分析的基本介绍X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在分析领域的地位得以确立。
不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。本法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点，是目前大气颗粒物元素分析中广泛应用的三大分析手段之一（其他两方法为中子活化分析和质子荧光分析）。